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[摘要]

本文用JY 170 ULTRACE等离子体发射光谱仪对常见二十三种元素的光谱进行了探讨,探讨了光谱干扰的类型并计算出干扰水平,同时测定了分析谱线的仪器检出限.

[关键词]

电感耦合等离子体发射光谱,光谱干扰,仪器检出限,材料检测

[作者]

李帆, 北京航空材料研究院分析化学研究室(北京); 叶晓英, 北京航空材料研究院分析化学研究室(北京)

[会议名称]

第二届海内外中华青年学者材料科学技术研讨会暨第七届全国青年材料科学研讨会

[会议时间]

20001001

[会议地点]

杭州

[主办单位]

中国材料研究学会

[会议分类]

一般工业技术
金属学与金属工艺

[母体文献]

第二届海内外中华青年学者材料科学技术研讨会暨第七届全国青年材料科学研讨会论文集2000增刊第18卷(下册)

[出版单位]

《材料科学与工程》编辑部

[出版地]

北京

[出版时间]

20001001

[页码]

864-867

[注释项]

[分类]

一般工业技术
金属学与金属工艺

[密级]

[馆藏号]